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飛納電鏡纖維統計分析測量系統在過濾產品中的應用

 釋出時間◕☁•:2022-04-18 點選量◕☁•:521

引言

 

從空氣過濾器和水過濾系統到防護服和口罩╃·│↟◕,研究人員需要先確定過濾產品的效能╃·│↟◕,然後才能再向公眾釋出▩│·。透過分析過濾器中的纖維╃·│↟◕,從而最佳化各種過濾系統的過濾效能▩│·。

 

以前╃·│↟◕,質量控制工程師通常使用光學顯微鏡或原子力顯微鏡(AFM)進行纖維結構分析▩│·。然而╃·│↟◕,光學顯微鏡的解析度較低╃·│↟◕,並且需要研究人員手動測量影象╃·│↟◕,而 AFM 測量速度很慢▩│·。

 

640.png

與光學顯微鏡相比╃·│↟◕,飛納臺式掃描電鏡(SEM)具有優秀的解析度和景深▩│·。

 

相比之下╃·│↟◕,飛納臺式掃描電鏡(Phenom SEM)具有優秀的空間解析度景深╃·│↟◕,可以在奈米尺度上研究纖維特性╃·│↟◕,使質量控制工程師可以快速評估過濾產品的效能▩│·。當飛納電鏡與纖維統計分析測量軟體結合使用╃·│↟◕,會自動測量每張影象中的纖維直徑╃·│↟◕,並快速準確地生成結果▩│·。

 

藉助 Phenom 臺式電鏡╃·│↟◕,製造商可以更高速有效地分析纖維結構╃·│↟◕,以滿足更廣泛的使用者需求▩│·。例如╃·│↟◕,使用 Phenom 採集並分析 100 張掃描電鏡圖片上的纖維特徵(每張圖片進行 100 次測量)只需 10 分鐘╃·│↟◕,而使用光學顯微鏡則需要數小時▩│·。

 

使用者透過飛納電鏡可以清晰地檢視纖維直徑₪☁╃、方向互連性╃·│↟◕,以便快速進行必要的工藝調整╃·│↟◕,確保產品的效能▩│·。例如╃·│↟◕,較小的纖維孔徑可確保過濾產品捕獲目標顆粒▩│·。較大的孔徑可提高過濾產品(如口罩和防護服)的透氣性▩│·。

 

640 (1).png

Phenom 臺式電鏡可以自動收集影象╃·│↟◕,並生成高分辨的拼圖影象╃·│↟◕,與纖維分析軟體相結合╃·│↟◕,快速高效地檢查過濾器樣品的所有區域▩│·。

 

與傳統的落地式SEM系統相比╃·│↟◕,Phenom 臺式 SEM 使用更簡單╃·│↟◕,購買和維護成本更低▩│·。與市場上的其他桌面 SEM 相比╃·│↟◕,它具有多項優勢╃·│↟◕,包括◕☁•:

 

· 快速₪☁╃、清晰地對纖維成像

 

飛納臺式掃描電鏡配備六硼化鈰(CeB6)燈絲或肖特基場發射電子槍╃·│↟◕,即使經常在減少電荷效應的低真空模式下執行╃·│↟◕,他也能為測量纖維提供高亮度的訊號▩│·。與鎢燈絲相比╃·│↟◕,CeB6 燈絲的亮度大約是其 10 倍╃·│↟◕,肖特基場發射電子槍的亮度大約是其 1000 倍,可以幫助使用者快速獲取更清晰的纖維影象▩│·。

 

· 堅固₪☁╃、耐用的燈絲

 

一根新的 CeB6 燈絲壽命至少為 1,500 小時╃·│↟◕,場發射燈絲的壽命更長╃·│↟◕,而普通鎢燈絲壽命僅為 50-150 小時▩│·。鎢燈絲可能會隨時發生熔斷╃·│↟◕,並存在汙染電鏡真空腔室的風險╃·│↟◕,而 CeB6 燈絲會隨著使用時間的推移緩慢退化衰減╃·│↟◕,從而使使用者能夠預測影象質量並在停機期間更換它╃·│↟◕,只需進行簡單的調節╃·│↟◕,就可以輕鬆獲得與之前一樣的纖維樣品影象▩│·。

 

· 幾乎沒有纖維的邊緣陰影

 

所有飛納電鏡標配有一個四分割背散射電子探測器(BSD)╃·│↟◕,從而最大限度地減少纖維邊緣的影象陰影▩│·。SEM 圖片中清晰的纖維邊緣是準確測量纖維直徑的關鍵因素╃·│↟◕,尤其是在使用自動影象分析軟體時▩│·。

 

· 樣品快速裝載

 

Phenom 具有*和快速的樣品裝載設計╃·│↟◕,這種樣品裝載設計允許在纖維生產過程中快速進行有效的結構分析和測試▩│·。

 

· 為纖維分析設計的自動化軟體

 

飛納電鏡的纖維統計分析測量系統(FiberMetric), 是一款專門分析影象的應用程式╃·│↟◕,用於量化纖維直徑₪☁╃、方向和過濾器孔隙率▩│·。FiberMetric 專為適用快速工作流程而設計╃·│↟◕,可自動掃描每張 SEM 圖片並提供準確的纖維測量結果╃·│↟◕,在幾秒鐘內生成數百次測量計算資料▩│·。該軟體可以快速分析整個過濾器樣本或隨機獲得的影象╃·│↟◕,並提供具有統計意義的資料▩│·。

 

飛納臺式電鏡可實現自動₪☁╃、快速纖維特性測量╃·│↟◕,從而顯著縮短實驗室獲取資料的時間▩│·。經過簡單的培訓╃·│↟◕,就能輕鬆地使用和測量╃·│↟◕,為製造商提供快速準確的資料來最佳化其過濾產品的效能▩│·。

傳真◕☁•:

郵箱◕☁•:info@phenom-china.com

地址◕☁•:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5╃·│↟◕,705 室

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