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飛納桌面掃描電鏡能配備哪些附件✘↟•╃₪?

 釋出時間↟◕│:2022-10-24 點選量↟◕│:83
  飛納桌面掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統兩部分╃↟。鏡體部分由電子光學系統·₪↟☁₪、訊號收集和顯示系統以及真空抽氣系統組成╃↟。由電子槍✘◕▩•,電磁透鏡✘◕▩•,掃描線圈和樣品室等部件組成╃↟。其作用是用來獲得掃描電子束✘◕▩•,作為訊號的激發源╃↟。為了獲得較高的訊號強度和影象解析度✘◕▩•,掃描電子束應具有較高的亮度和儘可能小的束斑直徑╃↟。
 
  檢測樣品在入射電子作用下產生的物理訊號✘◕▩•,然後經影片放大作為顯像系統的調製訊號╃↟。現在普遍使用的是電子檢測器✘◕▩•,它由閃爍體✘◕▩•,光導管和光電倍增器所組成╃↟。
 
  掃描電鏡技術發揮著重要的作用✘◕▩•,被廣泛應用於各種材料的形態結構·₪↟☁₪、介面狀況·₪↟☁₪、損傷機制及材料效能預測等方面的研究╃↟。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產生過程✘◕▩•,可以觀察金屬材料內部原子的集結方式和它們的真實邊界✘◕▩•,也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式✘◕▩•,還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等╃↟。
 
  飛納桌面掃描電鏡的附件↟◕│:
 
  掃描電鏡一般都配有波譜儀或者能譜儀╃↟。波譜儀和能譜儀是不能互相取代的✘◕▩•,只能是互相補充╃↟。波譜儀是利用布拉格方程2dsinθ=λ✘◕▩•,從試樣激發出了X射線經適當的晶體分光✘◕▩•,波長不同的特徵X射線將有不同的衍射角2θ╃↟。
 
  波譜儀是微區成分分析的有力工具╃↟。波譜儀的波長解析度是很高的✘◕▩•,但是由於X射線的利用率很低✘◕▩•,所以它使用範圍有限╃↟。能譜儀是利用X光量子的能量不同來進行元素分析的方法✘◕▩•,對於某一種元素的X光量子從主量子數為n1的層躍遷到主量子數為n2的層上時✘◕▩•,有特定的能量ΔE=En1-En2╃↟。
 
  能譜儀的解析度高✘◕▩•,分析速度快✘◕▩•,但分辨本領差✘◕▩•,經常有譜線重疊現象✘◕▩•,而且對於低含量的元素分析準確度很差╃↟。

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