飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）的背散射成像☁╃，用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒╃•▩✘。一旦發現可疑的顆粒☁╃，使用能譜（EDS）識別在該粒子中的元素╃•▩✘。zui常見的搜尋元素為 Pb☁╃，Sb 和 Ba╃•▩✘。無鉛底火的檢測☁╃，例如 Ti 和 Zn 也可為搜尋條件進行搜尋╃•▩✘。

  飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）是在臺式掃描電鏡執行自動射擊殘留物分析軟體╃•▩✘。其設計基於飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL╃•▩✘。軟體和硬體*一體化☁╃，以提高使用者操作介面友好性☁╃，可靠性和分析速度╃•▩✘。Phenom GSR 包括以下三個專案·↟↟••：自動射擊殘留物分析和分類軟體包☁╃，BSED 和 EDS 探頭內部整合☁╃，校準試樣╃•▩✘。

  配備 CeB6 燈絲☁╃，使其穩定執行☁╃，燈絲壽命不低於 1500 個小時☁╃，從可用性☁╃，適用性和執行時間的角度來看都非常理想╃•▩✘。小於 1 分鐘的載入時間☁╃，和快速的全自動馬達樣品臺☁╃，使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具☁╃，可以用來進行自動射擊殘留物分析╃•▩✘。

飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR

• 基於 CeB6 燈絲的高分辨影象

• 直觀易用的 GSR 軟體

• 高吞吐量☁╃，一次性放置多達 36 個試樣

• 操作簡單☁╃，*丟失導航系統☁╃，*整合能譜儀

• 測量結果準確可靠☁╃，廣泛相容法醫領域的各類應用

規格引數